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    顆粒表征分析儀的技術原理及功能特點

    發布時間:2022-01-04      點擊次數:231
      顆粒表征分析儀無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到0.02微米至3600微米,測量速度高達20000次/秒,兼具高靈敏度和重現性,對所有類型的樣品均可獲得準確可靠的結果。
      
      儀器利用顆粒對光的散射(衍射)現象測量顆粒大小的。即光在行進過程中遇到顆粒(障礙物)時,會有一部分偏離原來的傳播方向,顆粒尺寸越小,偏離量越大;顆粒尺寸越大,偏離量越小。
      
      散射現象可用嚴格的電磁波理論,即Mie散射理論描述。當顆粒尺寸較大(至少大于2倍波長),并且只考慮小角散射(散射角小于5°)時,散射光場也可用較簡單的Fraunhoff衍射理。
      
      顆粒表征分析儀的特點:
      
      1、重復性好
      
      儀器采用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測試過程不受溫度變化、介質黏度,試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響,只要將待測樣品均勻地展現于激光束中,即可獲得準確的測試結果。
      
      2、采用半導體激光發生器
      
      具有光參數穩定、效率高、壽命長、不怕振動等一系列優點,克服了傳統氣體激光器由于自然漏氣,需定期更換的缺點。
      
      3、測試迅速
      
      由于無須沉降過程,使測試速度大幅度提高,在通常情況下,1分鐘內即可完成一次樣品測試。(注:不包括樣品制備時間)。
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