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          提供整體分析,納米顆粒跟蹤分析儀的優勢特點

          發布時間:2022-05-11      點擊次數:69
            納米顆粒跟蹤分析儀通過子體積的掃描,來自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外,顆粒濃度也可以通過視頻計數分析得到。
            
            測量范圍依賴于樣品和儀器。對于樣品,顆粒跟蹤技術的檢測下限為10nm;相應的,如果樣品的散射能力較弱,則檢測下限會變得更大。假如樣品穩定,不會沉淀或漂浮,zeta電位測量的粒徑上限為50微米,對于粒徑測量為3微米。
            
            納米顆粒跟蹤分析儀的主要優勢在于其全新的增強型熒光檢測能力,能夠提供整體分析。完全由軟件控制的6位濾光輪意味著可在操作員不在場的情況下自動分析多個熒光標記物,從而節省研究人員的寶貴時間。
            
            1、同時測量多個特征,節省時間和樣本量;
            
            2、可視化結果驗證增加信任度;
            
            3、用戶友好型軟件可通過SOP輕松設置,適于日常使用;
            
            4、小化樣本制備量;
            
            5、機載溫度控制;
            
            6、激光波長可選;
            
            7、電動輪中多可選擇6個不同的濾光器,增強了熒光檢測能力。
            
            納米顆粒跟蹤分析儀技術原理:
            
            納米庫爾特是一種單顆粒檢測方法,每個穿孔的粒子在瞬間產生與粒子體積成比例的電流改變量,持續時間與粒子的速度成正比,從而與流體的流速成反比。通過微電流檢測系統記錄每個粒子的電脈沖信號,再經過智能分析軟件計算,即可準確地得到樣品顆粒濃度、粒徑、zeta電位、形態等分析結果。
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