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          粒納米粒度儀如何進行光路對中?

          發布時間:2022-02-18      點擊次數:128
            目前粒納米粒度儀采用的都是兩維對中系統,一般采用步進電機通過軸套來帶動移動尺來提供動力。
            
            步進電機和軸套、軸套和移動尺之間都是通過頂絲連接,導致三個器件的中心不在一條直線上,且移動尺正轉和反轉的之間的空轉間隙較大,導致對中系統不穩定,不能快速而準確地完成對中,現有對中系統都沒有限位系統,如果光路本身出現問題,對中系統就會出現誤判斷,一直朝著一個方向運動損壞機械傳動組件。
            
            針對現有技術的不足,瑞芯智造(深圳)提供一種設計合理、結構簡單緊湊、使用方便的三維自動對中系統。
            
            1、為了提高對中系統的精準度,減小空轉長度,采用帶絲杠的步進電機作為動力部件。
            
            2、為了提高對中系統的穩定性,采用消隙的滑軌作為機械傳動組件的核心部件。
            
            3、為提高對中速度和防止出現誤操作,采用光電傳感器與限位片結合的方式來限位。
            
            新型的三維自動對中系統與現有技術相比,具有如下優越的特點:
            
            1、實現了三維自動對中。
            
            2、設計合理、結構簡單緊湊。方便實用,可用于各型號的粒納米粒度儀。
            
            3、采用自帶絲杠的步進電機和消隙滑軌結合的方式能夠穩定、快速、準確地實現三維對中需求。
            
            4、采用光電傳感器與限位片結合的方式來限位,能夠防止因光路問題引起的傳動系統損壞。
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